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主題
陳廷軒
概要
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現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
by: 陳廷軒
(書目-語言資料,印刷品)
主題
內建自我測試
現場可程式邏輯陣列
處理中
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