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主題
內建自我測試
概要
作品:
3 作品在 0 項出版品 0 種語言
書目資訊
應用於影像壓縮系統中移動估測計算陣列單元之內建自我測試架構設計 = = Built-In Self-Test Design for Motion Estimation Computing Array in Video System Applications /
by:
(書目-語言資料,印刷品)
現場可程式邏輯陣列之內建自我測試與診斷之設計 = = Built-In Self-Test Design and Diagnosis Design for SRAM-Based FPGA /
by:
(書目-語言資料,印刷品)
三維積體電路矽穿孔之內建自我測試與內建自我修復研究設計 = = Built-In Self-Test and Built-In Self-Repair Design for TSV-based 3D IC /
by:
(書目-語言資料,印刷品)
主題
矽穿孔
內建自我修復
額外面積成本
內建自我測試
移動估測
現場可程式邏輯陣列
三維積體電路
良率
處理中
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