應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identif...
謝明憙

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  • 應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = = Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
  • 紀錄類型: 書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
    正題名/作者: 應用於多重塔式三維晶片測試之識別碼選擇電路設計 = / 謝明憙撰
    其他題名: Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing /
    其他題名: Identify Code Selection Circuit Design for Multi-Tower 3D-SICs Testing
    作者: 謝明憙
    其他作者: 許鈞瓏
    出版者: [花蓮縣壽豐鄉] : [國立東華大學電機工程學系], : 2012[民101],
    面頁冊數: 7,53面 : 圖,表 ; 30公分
    附註: 指導教授:: 許鈞瓏,林群傑
    電子資源: http://134.208.29.93/cgi-bin/cdrfb3/gsweb.cgi?ccd=EeDpZK&o=e2&dbid=I%2B3%3D%3C19%2A%3B%25%29&dbpathf=/opt/cdrfb3/db/stdcdrf/&fuid=01&dbna=
館藏地:  出版年:  卷號: 
館藏
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GE0128215 五樓論文區 (5F Theses & Dissertations) 03.不外借_N 本校碩士論文 T 448.6 0464 2012 一般使用(Normal) 在架 0
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