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適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = = Design of...

何銘宏

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博客來

適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = = Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis /

紀錄類型:	書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:	適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = / 何銘宏撰
其他題名:	Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis /
其他題名:	Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis
作者:	何銘宏
出版者:	[花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, : 民94[2005],
面頁冊數:	105面 : 圖,表 ; 30公分
附註:	指導教授︰許鈞瓏
標題:	低功率同步靜態記憶體設計 -
電子資源:	http://134.208.10.124/ETD-db/ETD-search-c/view_etd?URN=etd-0720105-151543PDF全文

適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = = Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis /
何銘宏

適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis / Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis何銘宏撰 - [花蓮縣] : 國立東華大學電機工程學系, 民94[2005] - 105面 : 圖,表 ; 30公分

指導教授︰許鈞瓏

碩士論文--國立東華大學電機工程學系,2005

參考書目︰面99-105Subjects--Topical Terms:

2541517
低功率同步靜態記憶體設計

適用於可測試分析之低功率同步靜態記憶體設計 = = Design of Low Power Synchronal SRAM for Testable Analysis /
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