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Reliability and yield of semiconduct...
~
National Tsing Hua University.
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博客來
Reliability and yield of semiconductor products /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
Reliability and yield of semiconductor products // Way Kuo.
其他題名:
半導體產品可靠度與良率.
作者:
Kuo, Way.
出版者:
Taiwan :National Tsing Hua University, : 2000.,
面頁冊數:
136 p. :ill. ;30 cm.
附註:
"National Tsing Hua University, December 10-15, 2000."
叢書名:
TSMC lectureship 2000.
標題:
Semiconductors. -
Reliability and yield of semiconductor products /
Kuo, Way.
Reliability and yield of semiconductor products /
半導體產品可靠度與良率.Way Kuo. - Taiwan :National Tsing Hua University,2000. - 136 p. :ill. ;30 cm. - TSMC lectureship 2000..
"National Tsing Hua University, December 10-15, 2000."
Includes bibliographical references.Subjects--Topical Terms:
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Semiconductors.
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Reliability and yield of semiconductor products /
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Reliability and yield of semiconductor products /
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半導體產品可靠度與良率.
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TSMC lectureship 2000.
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"National Tsing Hua University, December 10-15, 2000."
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Includes bibliographical references.
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National Tsing Hua University.
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台積電講座
$e
半導體產品可靠度與良率
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館藏地:
全部
罕用書庫2A區(美崙校區,調書請點預約)(RU_2A)
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
條碼號
典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
60003177
罕用書庫2A區(美崙校區,調書請點預約)(RU_2A)
01.外借(書)_YB
一般圖書
TK7871.85 K96 2000
一般使用(Normal)
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0
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1
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