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發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 / . (一)

Record Type:	Language materials, printed : Monograph/item
Title/Author:	發明專利實體審查基準 = / 張仁平編著.
Reminder of title:	Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 /
remainder title:	Guidelines for substantive examination of invention patent(1)
Author:	張仁平
Published:	台北市 : 經濟部智慧財產局, : 2010[民99] ,
Description:	[9],311,[3]面 : 圖 ; 21公分
Subject:	專利法規 -
ISBN:	9789860213881

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 / . (一)
張仁平

發明專利實體審查基準 = Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 / (一)Guidelines for substantive examination of invention patent(1)Compilation of international regulations and case studies張仁平編著. - 初版 - 台北市 : 經濟部智慧財產局, 2010[民99] - [9],311,[3]面 : 圖 ; 21公分 - 智慧財產培訓學院教材 ; 47. - 智慧財產培訓學院教材 ; 47.

含參考書目及附錄

ISBN: 9789860213881新台幣350元Subjects--Topical Terms:

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專利法規

發明專利實體審查基準 = = Guidelines for substantive examination of invention patent(1) : Compilation of international regulations and case studies : 國際法規與案例彙編 / . (一)
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