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半導體材料測試與分析 /
~
楊德仁
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博客來
半導體材料測試與分析 /
紀錄類型:
書目-語言資料,印刷品 : Monograph/item
正題名/作者:
半導體材料測試與分析 / / 楊德仁編著
其他題名:
半导体材料测试与分析
作者:
楊德仁
出版者:
北京市 : 科學出版社, : 2010[民99],
面頁冊數:
11,381面 : 圖 ; 24公分
標題:
半導體材料 - 測試 -
ISBN:
9787030270368
半導體材料測試與分析 /
楊德仁
半導體材料測試與分析 /
半导体材料测试与分析楊德仁編著 - 第一版 - 北京市 : 科學出版社, 2010[民99] - 11,381面 : 圖 ; 24公分 - 半導體科學與技術叢書. - 半導體科學與技術叢書.
含參考書目
ISBN: 9787030270368人民幣78元Subjects--Topical Terms:
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半導體材料
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半導體材料測試與分析 /
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館藏地:
全部
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
出版年:
卷號:
館藏
1 筆 • 頁數 1 •
1
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典藏地名稱
館藏流通類別
資料類型
索書號
使用類型
借閱狀態
預約狀態
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附件
E0636236
四樓中文書區000-599(4F Eastern Language Books)
01.外借(書)_YB
一般圖書
448.65 4622 2010
一般使用(Normal)
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