語系:
繁體中文
English
說明(常見問題)
回圖書館首頁
手機版館藏查詢
登入
跳至 :
概要
書目資訊
主題
良率
概要
作品:
1 作品在 0 項出版品 0 種語言
書目資訊
三維積體電路矽穿孔之內建自我測試與內建自我修復研究設計 = = Built-In Self-Test and Built-In Self-Repair Design for TSV-based 3D IC /
by:
(書目-語言資料,印刷品)
主題
矽穿孔
內建自我修復
額外面積成本
內建自我測試
三維積體電路
良率
處理中
...
變更密碼
登入